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变频抗干扰介质损耗测试仪用途特点及性能

变频抗干扰介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量,或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构,内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术,全自动智能化测量,强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示,自带微型打印机可打印输出。

主要技术指标:

准确度: Cx: ±(读数×1%+1pF)
tgδ: ±(读数×1%+0.00040)
抗干扰指标:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度
电容量范围: 内施高压: 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外施高压: 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分辨率: zui高0.001pF,4位有效数字
tgδ范围: 不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。
试验电流范围:10μA~
内施高压: 设定电压范围:0.5~10kV
zui大输出电流:200mA
升降压方式: 连续平滑调节
电压精度: ±(1.5%×读数+10V)
电压分辨率: 1V
试验频率: 45、50、55单频
频率精度: ±0.01Hz
外施高压: 正接线时zui大试验电流1A,工频或变频40-70Hz
反接线时zui大试验电流10kV/1A,工频或变频40-70Hz
CVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A
测量时间: 约40s,与测量方式有关
输入电源: 180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市电或发电机供电
计算机接口: 标准RS232接口
打印机: 炜煌A7热敏微型打印机
环境温度: -10℃~50℃
相对湿度: <90%